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zeta電位儀納米粒度的測(cè)定要求及測(cè)試方法

更新時(shí)間:2022-04-29   點(diǎn)擊次數(shù):1332次
   提到zeta電位儀,我們需要先了解一下zeta電位,Zeta 電位基礎(chǔ)理論的創(chuàng)立者是波蘭科學(xué)家斯莫魯霍夫斯基(Smoluchowski)zeta電位是帶電顆粒周圍的溶液中將富集帶相反符號(hào)的離子(即反離子),其中一部分反離子與顆粒表面緊密結(jié)合,構(gòu)成固定吸附層,又稱Stern層;另一部分反離子由于靜電吸引和熱擴(kuò)散兩種相反作用的平衡,分布在顆粒周圍溶液中,構(gòu)成擴(kuò)散層.位于Stern層的反離子由于強(qiáng)大靜電吸引聚集在顆粒表面而Stern層外的離子由于靜電吸引較弱,形成了擴(kuò)散層。兩層之間的邊界被定義為滑動(dòng)層或剪切層。顆粒做電泳運(yùn)動(dòng)時(shí),會(huì)帶著固定吸附層和部分溶劑分子一起移動(dòng),與液體之間形成滑動(dòng)面,定義滑動(dòng)面與液體內(nèi)部的電位差為zeta電位儀。

  zeta電位儀納米粒度的測(cè)定要求
  1、實(shí)驗(yàn)室提供的樣品池測(cè)量溫度不可高于70度;
  2、測(cè)量粒徑前,需查知樣品分散劑的粘度、折光指數(shù)、介電常數(shù);
  3、如發(fā)現(xiàn)電極變黑,需更換;
  4、用卷紙輕輕點(diǎn)拭樣品池外側(cè)水滴,尤其是兩個(gè)塞子外側(cè);
  5、一定要去除樣品池內(nèi)的氣泡,尤其是電極上氣泡;
  6、實(shí)驗(yàn)室提供的樣品池為聚苯乙烯材質(zhì),不可用于測(cè)量有機(jī)分散體系;
  7、使用濾紙過(guò)濾時(shí),舍去過(guò)濾后的第一滴樣品,以防濾紙上雜質(zhì)進(jìn)入樣品池;
  8、在Zeta電位分析儀測(cè)量時(shí)需自帶:卷紙、多個(gè)注射器(5ml)、多個(gè)離心管(用于稀釋樣品)使用使用光盤(pán);
  測(cè)試方法
  1、點(diǎn)擊圖標(biāo),啟動(dòng)Zetasizer軟件
  2、點(diǎn)擊軟件中 File – New - Measurement file,創(chuàng)建此次測(cè)試文件,一經(jīng)創(chuàng)建,本次測(cè)試的結(jié)果均自動(dòng)保存在此文件中,無(wú)需另行保存。
  制備樣品
  3、將制備的樣品注入樣品池,粒徑分布需1.0 ml—1.5 ml,Zeta點(diǎn)位測(cè)量至少需要1.0 ml。
  
  4、{0>點(diǎn)擊Start,即進(jìn)行測(cè)量。
  5、使用光盤(pán)拷取數(shù)據(jù)。

納米粒度及zeta電位儀

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